高温老化实验房

高温老化实验房常用于通讯、光电、LED、电子等产品（如：光电产品、机算机整机或零配件、显示器、触摸屏、终端机、车用电子产品、主机板、电源供应器、监视器、交换式充电器、手机、电脑、照相机、电话机等）仿真出一种高温、低温、高低温交变、恒定、循环等恶劣温度环境测试的设备。

高温老化实验房性能参数:
1.温度控制范围:A： 0～80℃（100℃）；B：-20～+80℃（100℃）；C：-40～+80℃（100℃）；D：-70～+80℃（100℃）
2.升温速率: RT+10℃→+80℃ ≤30 min（非线性空载）
3.降温速率: +20℃→-70℃ ≤100 min（非线性空载）

※ 温度变化速率为空气温度变化速率,而非产品温度变化速率

4.温控波动度:±0.5℃.
5.温控均匀度:±2.0℃.

满足与执行标准如下：

GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件；

GB/T11158-2006高温试验箱技术条件；

GB/T10586-2006湿热试验箱技术条件;

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温；GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温；

GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验；GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db 交变湿热（12h＋12h循环）